斯派克發(fā)布新一代SPECTRO MIDEX 小焦點(diǎn)ED-XRF
拓普思實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)
2018-11-23
德國斯派克近日發(fā)布了新一代的SPECTRO MIDEX 小焦點(diǎn)能散型X射線熒光光譜儀，提高了分析速度和分析準(zhǔn)確度。
SPECTRO MIDEX 小焦點(diǎn)能散型X射線熒光光譜儀
新一代的SPECTRO MIDEX 分析儀采用了創(chuàng)新的ED-XRF檢測技術(shù)，這個(gè)創(chuàng)新使此臺(tái)儀器成為測量貴金屬的中頻臺(tái)式XRF儀器之一。此臺(tái)儀器提高了元素分析的準(zhǔn)確性，對貴金屬冶煉來說，這一點(diǎn)是非常重要的;同時(shí)減少了測試時(shí)間提高了樣品通量，大型的品質(zhì)認(rèn)證是非?？粗剡@一點(diǎn)的。此臺(tái)儀器操作簡便，并且可以很方便的將測試結(jié)果上傳到實(shí)驗(yàn)室網(wǎng)絡(luò)中。
另外，SPECTRO MIDEX 的優(yōu)勢還包括：
在較寬的濃度范圍內(nèi)可保證較高的準(zhǔn)確度;較短的分析時(shí)間(一般為30-40秒)。對于冶煉樣品的小飾品或者鉆粉，它的分析點(diǎn)位可以小至1毫米。對于均質(zhì)性較差的銀質(zhì)樣品，一個(gè)較大點(diǎn)位的平均分析結(jié)果可以有效的保證高準(zhǔn)確度。
操作方便，軟件界面直觀，可在單一屏幕上展示所有相關(guān)信息。一個(gè)綜合性的視頻系統(tǒng)幫助操作者準(zhǔn)確的放置樣品并定位分析點(diǎn)位。分析結(jié)果可展示、打印并上傳，大大方便了數(shù)據(jù)使用者。
成本低廉。適合于貴金屬測試辦公室、分析實(shí)驗(yàn)室、品質(zhì)鑒定和冶煉實(shí)驗(yàn)室。與ICP-OES和火試金法需要消解不同，它在分析成本和速度上更有優(yōu)勢。
高分辨率的硅漂移檢測器保證了微量和痕量元素分析的準(zhǔn)確度。加上計(jì)數(shù)率，相同時(shí)間內(nèi)，信號強(qiáng)度增加了四倍。
與以前的120秒的分析時(shí)間相比，分析速度大大提高。在準(zhǔn)確度不變的情況下，一次掃描僅需30秒。
儀器設(shè)計(jì)緊湊，樣品室較大，可處理小至針類珠寶大至銀片的樣品。將樣品放入升降臺(tái)，然后旋轉(zhuǎn)按鈕將其準(zhǔn)確地放置在超優(yōu)的測量位置，關(guān)上分析儀，在屏幕上點(diǎn)擊開始即可開始分析
